本帖最后由 longshort 于 2017-6-28 16:41 编辑
4)各元件要求达到的性能指标
运算放大器
上节的式(11)给出了限制,在以运放输出满扫幅和输入以10µV变动为条件的情况下,失调电压和失调电流产生的总漂移温度系数,在0.2µV/°C左右。
若放宽对恒温器的要求到50°C的全温范围为0.1°C的控制水平,那么对温控运放的失调温漂指标亦可放宽到10µV/°C,而对温补运放的失调温漂指标没有要求。
若以运放的直流增益倒数作为近似误差,使∆Vbe的变化与计算的误差小于1/10,000,那么只要增益大于等于10,000倍即可满足要求,这相当于80dB增益的中增益运放;在这里讨论的范围,运放增益的作用就是尽可能地将输入端的变化完整地反馈到前级晶体管的输入上,运放的增益误差完全可以忽略,也就是说,在这里将运放看作是一个直通器件。
如果将运放从LT1013更换为LTC1051,那么A1的温度控制能力将提高为十倍,而用于A2后比LT1013高两倍多的输入噪声水平,也将在温度补偿电路中被抑制掉99%。
温度传感晶体管Q2
直流增益hfe要足够大,并且在一个较大的电流范围内保持有平稳的放大系数,通常选择在Ic=1µA和Ic=100µA时的直流增益比例不小于0.5。
在Vce等于Vbe的工作电压(即Vcb=0V)下,保持hfe不变或很少变化。
基区电阻rbb要足够小,使1/f噪声电流在其上产生的电压足够低。普通晶体管的这个值一般在几百欧姆的范围,但这里要求在几十欧姆内。
射区电阻ree要足够小,使温度变化时Vbe的变化尽可能地接近真实对数特性变化。这个值一般在零点几欧姆,比普通晶体管的ree要小得多。
温度补偿晶体管Q1
运放的10µV输入变动条件对应了44.1nV的∆Vbe变化,因而44.1nV也是控制精度的门限。
0.1Hz~10Hz频段的等效输入噪声足够低,至少要在控制精度的一半以下,即22nV上下,在0.1~10Hz频段,相当于7nV/√Hz的平均噪声密度。这个值越小,越接近预期的控制稳定度,自身噪声对Vout的贡献就越小。
其它要求与温度传感晶体管完全相同,实际上Q1与Q2可看作是一个差分对管的组合。在图1电路的参数条件下,Q1和Q2的功耗均小于47µW。
无独有偶,一种更为早期的基准器件SZA263,由一个温度补偿晶体管和一个齐纳二极管组成,其温补晶体管的工作点是Ic=30µA,Vce≤1V,功耗更小一些,为30µW不到,Ic=100µA时的hfe估计在200以上,这可以作为一个比较。
R1
按“R1对电路性能的影响”段中的分析,在不考虑反馈作用的情况下,齐纳管无补偿时R1变化100ppm将使输出变化1.19ppm。当计入反馈电路的作用之后,R1变化100ppm使输出发生变化的程度降低到0.0263ppm,比无反馈时改善了约45倍。
若要求R1在温度发生变化时对输出的影响小于0.05ppm的一半,对于无反馈时就要求R1的TC指标优于2ppm/°C,对于有反馈时则优于100ppm/°C的均能满足要求。由于承担主Iz的要求,考虑年老化率的影响并拟使用十年以上,选择15ppm/°C以内的任意一种精密电阻器就可以满足需要。
R1的取值根据60°C下的Vbe所通过电流而定,计算公式为:
R1=Vbe60/Iz (16)
R2、R3
按“R2、R3对电路性能的影响”段的计算结果,R2、R3每100ppm变化引起的输出变化分别为0.341ppm和0.041ppm,R2可以使用TC为15ppm/°C的线绕或金属膜精密电阻器,R3可使用50ppm/°C的普通金属膜电阻器。
R2和R3分别是Q1和Q2的集电极负载电阻,通过电流为100µA左右。
对于基准对照源,Vz+Vc≈(6.4~6.8)V,则R2=R3=68KΩ;
对于基准模拟源,Vz+Vc≈(5.4~5.8)V,则R2=R3=56KΩ;
其中Vc为补偿电阻产生的附加电压。
R4、R5
在“晶体管Q1、Q2的工作状态”段中,对R4、R5组成的分压器得出的结果是,分压点分压比例变化100ppm,对输出的影响小于1ppm,前提是齐纳管的温度系数已被改善到40ppm/°C以下。
对于输出影响小于0.025ppm的要求来说,上述条件下的分压点温度系数需要控制到2.5ppm/°C。如果齐纳管的温度系数被进一步改善到10ppm/°C以内时,每100ppm分压点的变化将使输出变化控制到0.25ppm。于是,分压器分压点的温度系数再控制到10ppm/°C内时,就可使对输出变化的影响落到0.025ppm/°C内。
这样,选择温度系数为10ppm/°C指标的精密电阻器可以无须做温漂匹配,选择大于这个指标的电阻器则需要将TC差别控制在10ppm以下就行了。
R4的取值根据齐纳管电压Vz和补偿电阻上的压降之和决定,计算公式如下:
R4=(Vz+Vc)/(Vbe2/R5) (17)
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