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电压基准测试系统 Voltage Reference Test System

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发表于 2009-9-15 10:33:59 | 显示全部楼层 |阅读模式
一、电压基准测试的基本方法

这段时间大家都做了很多基准,但如何知道做的好坏?温度系数如何?稳定性如何?这就需要进行测试。那么如何测试呢?

1、简单测试
最简单的就是用高位表,直接测试,采集用人肉,或者GPIB卡自动进行。
bdirect.gif

但是,这种测试方法,只能测试基准的短期情况,比如开机特性或者把基准带电冷藏后,拿出来测试温度变化情况。一旦涉及中长期稳定性,或者由于整体环境温度的改变而引起的读数的变化,那么这样的测试就有很大问题。读数如果有变,到底是基准的变化,还是表的变化,是无法分清的。原因很简单,我们做的基准都是用最好的元件,263/LTFLU/LTZ1000,而且做了很多的稳定性措施,指标可能很高,比如达到0.2ppm/C温度系数,日变化<0.3ppm。即便是最高档的8位半万用表,其24小时的稳定性(0.5ppm)、温度系数(0.5ppm/C),可能都在我们DIY的基准之下。所以,上述方法与其说测试基准,还不如说是用基准来测试表。
以下图表,就是redtony采用llycom的GPIB卡直接测试的结果。由于lly的卡带有温度,因此用的2轴直方图。
redtony.jpg


2、 背靠靠对比测试
其次就是用2个基准做背靠背对比:
b2b.gif

这种对比,由于电压相差很小,可以采用高位表的最灵敏档(比如100mV档),这样分辨就可以达到0.1uV。即使分辨到1uV,也相当于10V的0.1ppm,因此可以看到平常看不到的变化细节,可以用6位半表取得8位半表直接测试的效果。
当然,在两个基准互相仍然有变化的情况下,你也不知道是其中一个基准变大,还是另外一个基准变小。
因此,此种方法主要用在在两个基准相差比较大的时候,即一个为比较好的基准、另一个是普通基准,那么就可以以前者为参照(认为是固定不变的),而把变化都归结到另一个基准的身上。若两个都是差不多的基准,那就不太适用了。
以下图表,就是Jambalaya用3456A,对比测试2个7V的结果。横轴是时间,对比了24个小时。纵轴是电压差,uV。可以看到,互相差异的最大值大约是2.5uV,也就是0.36ppm,直观的得到了基准的超低频噪音特性。
Jam_7V背靠背24小时.jpg


3、基准并联
测试的最基本的方法,就是对比
比如我做了3个基准,或者更多的基准,如何测试呢?如何对比呢?
很简单,先要对基准进行并联。统计分析的结果告诉我们,基准并联后,会降低噪音、减少不确定度、提高稳定度。从数学的意义上看,并联就是做算术平均。

因此,并联分为逻辑并联和物理并联两种。前者就是直接对基准进行分别测试,然后对数据求平均值。而后者是用电路来实现并联,直接输出一个并联的、平均的信号。
0aver.gif

物理并联,就是把并联基准的所有的负端接到一起作为输出的负,把正端通过电阻串联后再接到一起作为输出的正。所用的电阻必须是相等的,阻值的选择视并联的基准的电压差而定,一般选择100欧。假设上述基准最大差别为100ppm(即1mV)因此选择100欧后,最大电流不会超过10uA。而无论10V和7V基准,本身的输出电阻都非常小,一般都有<0.01欧,所以引起的电压变化不会超过0.1uV,对于10V是0.01ppm.可以忽略。如果并联电阻选择太小比如10欧,那么因输出电阻的原因而引起的变化就不容易忽略。但如果并联电阻选择更大一些例如1k,那么并联后输出电阻就比较大,对后续的测试就很不利了。

4、扫描测试,用8位半
即采用物理开关的方法,把待测基准逐个转换,接到高位表上,分别读数。
0am2.gif

图中红色框内的部分,就是一个转换开关。这里画出了最简单的形式,单刀多掷。实际上,开关可以是双刀的(适合正负电压同时转换),甚至是4刀的(适合测试4线电阻),而开关的控制可以是程控的。这样的开关有成品可买到,比如Dataproof的、高联的,但价格都非常贵(万美金级别)。
这种方法适合具有8位半表的场合,基准可以是任意电压混合,平均可以在测试后进行。


5、背靠背扫描测试
同上,但若没有8位半表,只有6位半,那么我们必须用一个基准,把6位半的基础台起来,让6位半能使用高分辨、小量程。
0am3.gif

右边V0应该采用一个自己信赖的、经过考核和标定并认为是最好的基准,作为基础。当然,假设以后发现这个基准不是那么理想,也可以有办法进行修正。


6、并联背靠背扫描测试
一旦进行了并联,我们就有了手边最好的基准,因此一切测试都应该参照这个并联基准来进行。
0am4.gif

可以看到,高位表的负端接到了并联输出端,这是目前所能找到的最好的基础。而高位表的正端经过扫描开关,分别可以测试每个基准的输出。
当然,细心一些就可以发现,高位表实际在测试每一个并联电阻上的电压!
是的,事实就是如此,这也是并联的作用。因此,也可以把并联电阻和开关装在一个机壳里。

附注:以上并联,是一个示意。只有在各基准的电源是独立并高绝缘的情况下,才能采用简单并联(即把各基准的地简单的接到一起)。如果各基准用的是同一组电源,那么,开关必须是两组的(也对负输出进行转换),同时并联也是对称的(即也要用几个100欧电阻接到各个负输出,再接到一起,作为并联负输出)。
 楼主| 发表于 2009-9-15 10:34:13 | 显示全部楼层
二、电压基准对比测试系统

1、要求和目标:
a、高性能,这不能妥协
b、实现容易,成本不高
c、使用方便,不言而喻


2、测试目的:
通过对比测试,得到每一个基准的温度系数和中长期稳定性指标


3、系统组成图
0框图.gif

其中基准组群就是待测试的基准,由于要对比,必需尽可能的把自己的、外来的所有基准都接上。10V、7V电压任意,数量主要取决于开关。但若没有8位半,最好是背靠背测试,因此要求电压一致,即要么全是10V,要么全是7V。


4、控制器
控制器包括接口控制部分、开关部分和接线部分。
其中,开关自然是自动控制的,可以采用磁保持继电器或者PhotoMos,个人倾向于后者。为双刀,尽管背靠背测试可以用单刀。
控制部分的输入信号来自高位表的VM COMP,即Voltage Measurement Complete测试结束信号。一旦测试结束,万用表就发一个脉冲,控制部分就可以把开关转到下一位置,然后,等待一小段延时后(目的在于让继电器接触牢固、电压上升完毕),触发高位表进行下一次测试,这可以通过万用表的Ext Trig(External Trigger外部触发)来进行。
实际上,我的3458A、34420A、34401A、6581T、6871E、1281都带有延时测试,也就是测试开始的时候(内部触发或外部触发),先自己进行延时(可调),再进行正式测试。例如3458A可以用命令Deley 1E-1来设置0.1秒的延时。有了这样功能的表,就可以不接收这个触发信号。因为,一旦测试完成就发出VM信号,控制器很快控制开关完成转换,此时万用表还在延时。转换完毕后自动开始下一个测试。所以,这个Ext Trig也画成了虚线。

由此可见,以上过程重复下去,就可以实现测试的循环,而不是测试同一个信号。
当然,控制器部分可以设置成每个开关测试几次(这样可以去掉不正常的信号、取平均等),然后再转到下一位置。
另外,控制器也可以选择循环的个数,因为位置可能很多,但实际没有都接基准(用于一共有10个测试位置但只接了5个基准),以便排除空测试。
控制器的外部接线采用单芯线、全部焊接的方式,类似Dataproof的某款开关,这样不仅简化接线,而且有不错的热电动势。


5、高位测试表
可以采用8位半,利用其良好的线性,可以直接对比7V和10V,即基准电压可以混合。也可以采用6位半,这样只能对比到1ppm(或者34401这样的可以从GPIB读出7位半、0.1ppm),这样最好接成背靠背的方式,只适合全部为10V的基准或全部为7V基准的场合


6、采集卡,可以用lly的或者成品的

7、PC机,毋庸多言,自动记录和后期分析处理所必需
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 楼主| 发表于 2009-9-15 10:34:21 | 显示全部楼层
三、系统实现细节

以下是自己的试验系统。
如果要做比较正式的系统,满足大多数人的要求,那么大体的步骤是:
确定系统功能----尽量照顾多数人的需求,既不太复杂但也要留有一定余量
确定系统结构----简单、高性能、容易扩充、使用方便、价格不高,此为可以考虑的设计原则
电路设计--------实现方便,取材容易
布线
软件设计
组装测试


核心开关部分,可以采用PhotoMos开关。这是Wavetek在7000的电压基准系统里曾经用到的。
PhotoMos开关的优势,在于输出部分比较理想。我曾经用过KAQY212,4脚的形似光耦,输入部分是LED特性,只要1.0mA(1.1V)就能导通,导通电阻在1欧以下(纯电阻,MOS开关,较低热电动势)。而断电后输出也断开,开路电阻是1E10级别的。初级次级隔离,可以耐受kV级电压,耦合电容也很小。
这个开关也可以采用KAQW212,8脚的双开关。
当然,若采用松下的AQV102/AQV252,也可以,只不过是6脚的,体积要大一倍,不便于安装。

以下是我以前用这个PhotoMos做的开关,用4017做计数、循环,直接输出,给电阻+LED+PhotoMos串联,用5V电源。
A81.jpg

这部分现在制作,可以采用类似的电路,用1个或者2个74HC4017串联,有最多10路/20路。
电源可以用2.5V供电,这样功耗小、发热少、热电动势就小。

控制部分的输入信号来自高位表的VM COMP。每当高位表测试完成,就输出一个脉冲,我们就可以利用这个信号,把开关转到下一位置,然后,用高位表自身延时一小段时间后,开始下一次测试。

VM COMP信号一般都是TTL负逻辑,即输出是低沿。这样,很可能需要一个上拉电阻接到2.5V电源上,电阻可以用100k。
万用表的测量触发,也是TTL信号,这样就可以用一个PhotoMos,直接短路进行触发。
以下是34401A的说明:
34401A.gif


高位表一般都有这两个输入/输出,下面分别是34401A、34420A、3458A、2001、6871E、6581T
34401A.jpg
34420A.jpg
3458A.jpg
2001.jpg
6871E.jpg
6581T.jpg

万一某表没有VM Comp信号(但也一定有触发信号),那就可以进行延时触发。时间达到后,先提前把开关转换好,延时一小段时间(0.1秒一般足够),对高位表进行触发。



至于引线部分,可以采用类似Dataproof 160B的一种选件方式,用屏蔽单芯线,一端直接焊接在开关的电路板内,另一端裸露出来,直接压接到基准和万用表的的接线柱上。
要知道Dataproof的开关具备0.04uV以下的热电动势,效仿其方法是可行的而且简单方便。线材可以找那种6类网线(屏蔽的)。
160B-opt1.jpg


2009-10-3补充:做好了一个试验系统
DSCN9194s.jpg
其实很简单,就是把3458A的VM接出来,用稳压管小小的shift一下电位,在3458A里设置EXTOUT 6,就好用了。
红、黑夹子,就是VM输出。实际上电平有点问题,用了个5.1V的稳压管转换了一下。
盒子是临时放的,里面有8块7V板(空闲2块)。同时引出一根网线,接到几个外部基准上 。
电路用了2个CD4017,最多允许20路,我给设置成了17路。其中,内部7V板10个,0点1个,平均输出1个,温度信号1个,外部输入4个
DSCN9192s.jpg
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 楼主| 发表于 2009-9-15 10:34:31 | 显示全部楼层
四、数据处理

下面以lly的GPIB采集卡为例,给出处理过程。

单批采集,即接好接线、开机、预热后,运行采集程序,一直到采集结束。期间可以只进行几分钟,也可以进行几小时甚至几天。这里不建议一直开机测试,那样的话不便于停下来做分析和调整,而且业余条件下也不好保证各电源的供给和环境的变化。另外,采集程序也有个跨日期的处理的麻烦。

单批采集的数据格式是文本的,结构如下:
2009/10/03 22:32:45
27.9  1.000000869E+01
22:32:56 26.9  7.078605518E+00
22:32:59 26.9  7.080699989E+00
22:33:02 27.0  7.068441122E+00
22:33:05 27.0  7.067915417E+00
22:33:08 27.0  7.058440395E+00
22:33:11 27.0  7.071071878E+00
22:33:14 27.1  1.000005257E+01
22:33:17 27.1  3.426300468E-01
22:33:20 27.1  1.000018128E+01
22:33:23 27.1  1.000000799E+01
22:33:26 27.1  9.843610130E+00
22:33:29 27.1 -3.541230748E-06
22:33:32 27.1  7.065652571E+00
22:33:35 27.1  7.071073014E+00
22:33:38 27.1  7.070222842E+00
22:33:41 27.1  7.071071863E+00
22:33:44 27.1  7.077931533E+00
22:33:47 27.2  7.078603376E+00
22:33:50 27.2  7.080699741E+00
22:33:53 27.2  7.068440015E+00
22:33:56 27.2  7.067916947E+00
22:33:59 27.2  7.058442013E+00
22:34:02 27.3  7.071071936E+00
22:34:05 27.3  1.000005292E+01

这个是用lly的GPIB卡采集的,每行一个数据,混合的,这样的数据是不好被Excel处理的。因此,写了个小程序,自动智能化的找出循环次数(在我的情况下是17),然后把数据排列成每行17个数,如下:
2009/10/03 22:32:45
27.9  1.000000869E+01
22:32:56 26.9  7.078605518  7.080699989  7.068441122  7.067915417  7.058440395  7.071071878  10.00005257  3.426300468E-01  10.00018128  10.00000799  9.843610130 -3.541230748E-06  7.065652571  7.071073014  7.070222842  7.071071863  7.077931533
22:33:47 27.2  7.078603376  7.080699741  7.068440015  7.067916947  7.058442013  7.071071936  10.00005292  3.431661134E-01  10.00018122  10.00000873  9.838864211 -3.439219986E-06  7.065655952  7.071072504  7.070225407  7.071071849  7.077928415
22:34:38 27.3  7.078605577  7.080701635  7.068444897  7.067915927  7.058443849  7.071072315  10.00005248  3.436659516E-01  10.00018096  10.00000828  9.838244116 -3.380928122E-06  7.065657001  7.071072854  7.070228045  7.071072009  7.077934637


可以看到,每行不再是1个数据,而是17个数据了。同时,不仅排列方式改变了,而且数据也更直观了,这样就可以读到Excel里:

excel.gif


然后就可以做图
excel2.gif


(后续分析)
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 楼主| 发表于 2009-9-15 10:34:42 | 显示全部楼层
最后,列一下所需材料/元件:
1、PhotoMOS,用KAQY212最好(4脚,这个我用过),也可以用KAQW212(8脚、双开关)、AQY212(4脚、松下)替代。每套系统要30只(10路)或60只(20路)。
2、74HC4017,没套系统要1只或2只。
3、串联电阻,1.2k(大约,电源用2.5V)
4、LED,3mm高亮(用LED串联必需5V供电,而且串联电阻要根据LED的颜色、批次而定)
5、74HC02
6、。。(其它元件)。。。。
7、6类网线,或单芯屏蔽线
8、机壳
9、延时调节电位器、旋钮,100k
10、。。。

【全文完】
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发表于 2009-9-15 10:43:00 | 显示全部楼层
,先顶再看
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发表于 2009-9-15 11:00:05 | 显示全部楼层
提示: 作者被禁止或删除 内容自动屏蔽
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发表于 2009-9-15 11:13:26 | 显示全部楼层
认真学习。
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发表于 2009-9-15 12:16:23 | 显示全部楼层
坐地板上学习
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发表于 2009-9-15 12:18:34 | 显示全部楼层
学习一下。。
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发表于 2009-9-15 12:20:29 | 显示全部楼层
认真学习
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发表于 2009-9-15 12:25:10 | 显示全部楼层
认真学习中
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发表于 2009-9-15 12:31:22 | 显示全部楼层
[s:31]  [s:31]
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发表于 2009-9-15 14:12:15 | 显示全部楼层
有了这个开关系统,对比测试就方便多了。人肉虽然强大,但很累呀。
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发表于 2009-9-15 14:43:38 | 显示全部楼层
厉害,LD
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发表于 2009-9-15 15:38:54 | 显示全部楼层
我已经囤积若干AQV102/AQV252
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发表于 2009-9-15 16:57:28 | 显示全部楼层
学习了,总算知道什么叫背靠背测试了
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发表于 2009-9-15 18:47:09 | 显示全部楼层
好文章。
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发表于 2009-9-15 19:14:37 | 显示全部楼层
正在想法测试,学以致用,好
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发表于 2009-9-15 20:16:19 | 显示全部楼层
感谢Lymex的分享。
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发表于 2009-9-15 22:11:34 | 显示全部楼层
本坛电压基准传递活动的前奏--基础知识准备篇
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发表于 2009-9-16 10:36:58 | 显示全部楼层
好帖,慢慢学习。
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发表于 2012-12-11 15:09:17 | 显示全部楼层
进来好好听课。[s:30]
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发表于 2020-11-14 16:34:46 | 显示全部楼层
lymex 发表于 2009-9-15 10:34
二、电压基准对比测试系统

1、要求和目标:

请教个问题,34420里的电压比较DC:DC是两个通道同时取样的吗?
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