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发表于 2015-5-12 23:07:15
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逐次比较型ADC测量一次需要比较n次,n为位数。
输入电压越高,需要对其与越高的单次比较基准电压进行比较。
输入电压越高,反而只需要比较较低的单次比较基准电压,而不涉及更高的单次比较基准电压。
所有的单次比较基准电压均由n位SAR ADC内部的n位DAC根据ADC所用的基准电压Vref产生,例如8位ADC内部为8位DAC,可产生256个比较基准电压。
根据DAC原理,越高的单次比较基准电压的噪声越接近Vref的噪声,越低的单次比较基准电压的噪声越低,1/256Vref的噪声只有Vref噪声的1/256,而255/256Vref的噪声与Vref基本相当。
因此Vref的噪声对于更高的比较基准电压影响更大,即对于更高的输入电压影响越大。 |
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