laisla
发表于 2014-10-31 00:57:17
beautieshunter
发表于 2014-10-31 01:22:11
本帖最后由 beautieshunter 于 2014-10-31 01:26 编辑
对计量界不是很懂,但是,是否可以考虑发个核心?{:142_381:}{:142_381:}
另外,假如我有办法控制电容充电的时间,使得电容不被充满,那么叠加的电压是否就是可调的?那就是说输出电压就可以从7~10.5V可调?
再假如,叠加的电压通过可控衰减放大倍数等后与原始7V电压同样衰减放大后叠加,是否可以做成0V起跳的可调电压源?
但这样的话违背这个方案缩减元器件的初衷了。就是随便说说,哈哈……
hu8421
发表于 2014-10-31 04:21:55
采样保持
longshort
发表于 2014-10-31 07:48:18
电容必须被充满,否则误差很难控制。但通过控制叠加时间,可以控制输出电压。这个方法要考虑电容器本身的温度系数,叠加会产生一个分压比,这比电阻的温度系数控制难度要大,所以实现的可行性还需要考虑。
simon51
发表于 2014-10-31 08:50:41
很好,提供了一个新思路{:142_382:}
xinjihua
发表于 2014-10-31 09:12:57
很好,提供了一个新思路
thy888
发表于 2014-10-31 09:29:46
不错,不错,电容升压,换向了。
如果PWM的方案,分辨率只要3位,也可以大大简化滤波器,无源滤波器就可以满足
xuanmic
发表于 2014-10-31 09:44:46
是一个很好的思路!
xuplastic
发表于 2014-10-31 09:55:05
输出属于高阻输出,应加一级运放缓冲,否则太易受外界干扰
电容似乎应该用低漏电CBB电容?你用的是电解?
laisla
发表于 2014-10-31 10:03:12
laisla
发表于 2014-10-31 10:07:28
laisla
发表于 2014-10-31 10:14:02
xuplastic
发表于 2014-10-31 10:25:26
laisla 发表于 2014-10-31 10:07
薄膜电容个头大,目前的测试是特别针对极性电容的,如果极性电容效果也很好,就没有必要使用薄膜电容。
...
我做过倍压电路,比你这个还简单,但是手轻轻一捏导线就立即下降几百ppm,没有那么理想的,LTC1043模拟开关导通电阻几百欧姆,不太好了
极性电容在温度场分布不均的情况下是否会产生额外电动势?
laisla
发表于 2014-10-31 10:32:33
xuplastic
发表于 2014-10-31 10:40:05
laisla 发表于 2014-10-31 10:32
我这个好像没有这个现象啊,话说你的输出没有缓冲器吗?
有啊,我是说没有缓冲的电压很脆弱,属于高阻输出,整体漏电(PCB漏电,电容漏电,模拟开关漏电)要控制在1nA一下才
laisla
发表于 2014-10-31 10:41:11
远行人
发表于 2014-10-31 10:47:12
进来看看
学习一下
xuplastic
发表于 2014-10-31 10:49:47
laisla 发表于 2014-10-31 10:41
这个开关电容的开关频率至少1000赫兹,1毫秒一个周期,即使电容产生了其他的电动势,在一个周期内的对比 ...
但是你两个电容并联时是“全无源”的,没有外力参与,这就产生了误差
我和你想的一样,但是情况并不好,说脆弱是肯定的
0.01uf的震荡电容频率大概是200多Hz
JackFrost
发表于 2014-10-31 10:59:02
想搞搞LTC1043很久了,一直也没机会下手。楼主有没有试过这个架构温漂情况如何?
laisla
发表于 2014-10-31 11:02:06
laisla
发表于 2014-10-31 11:05:44
ruinedone
发表于 2014-10-31 13:54:42
电容的温度系数是远远大于电阻的。用连个电容温度系数的匹配太可怕了。
topv
发表于 2014-10-31 14:39:21
期待最终的测试数据
laisla
发表于 2014-10-31 15:07:07
夜行者
发表于 2014-10-31 18:17:01
laisla 发表于 2014-10-31 15:07
这个不需要匹配,电容的变化造成的偏差在每个开关周期都被纠正。
不太理解每个开关周期都被纠正是什么意思?比如说并联的两个电容发生非比例的温飘。
仔细查了下C0G的温度系数+-30ppm/K,相对于电阻而言还是比较大的。
不过这种电荷泵式的升压方式如果用在产生高压上效果如何呢?比如拿10V基准生成100V基准,190V基准。
laisla
发表于 2014-10-31 18:40:40
天风雪雨
发表于 2014-10-31 18:58:22
laisla 发表于 2014-10-31 18:40
假设两个电容容量随温度变化而变小,由于电容两端电荷不变,那么电容两端电压会升高,这样整体电压会升高 ...
我不知道WAS有没有测试过电容介质的吸附效应带来的影响,但是,如果电容两端的电压高于基准时,由于和基准并联后是电容向基准倒灌电流,这个对基准原本的稳定状态肯定会有影响的。同时由于介质的吸附效应,即使撤去并联的充电电源后,电容上的电压则仍旧会因为此效应而自行升高。
iddqd2001
发表于 2014-10-31 19:11:32
Prema 5017 and 8017 voltage reference:
夜行者
发表于 2014-10-31 19:27:00
恩,刚才算了下,串联接基准后并联,电容分别为 C,C+dC
并联后电压为 (1/2 - 1/8*(dC/C)^2)倍的基准电压
看来要有1ppm精度,电容相差0.2%都可以,这条件看着挺宽松的。
laisla
发表于 2014-10-31 19:29:58