朝阳远征2DW234低频噪声测试
本帖最后由 archwang 于 2015-6-24 22:01 编辑据说CYZ牌2DW23x也有不错的噪声性能，于是按图索骥，买几枚回来测测看。
果然是带着“出世纸”来的，和坛里先前的照片https://bbs.38hot.net/forum.php?mod=viewthread&tid=49306如出一辙，新得不能再新的生产日期，红彤彤的“检02”，只是改成了彩色打印，真是越来越高洋上了。金光闪闪的管座，一下子就把右边两个做对比的上无十七厂产品比了下去。
再来个正面集体照，它们就是今天测试的主角，从右向左依次登场。
先来个87年的宝石牌垫场子
6.0uV，中规中矩。
再来个13年的宝石牌
0.53uV，与之前的测试基本一致。
CYZ-No.1
51uV……看看右1/3处多么标准的爆米花噪声（两个平台之间来回跳跃）
CYZ-No.2
138uV……其实已经饱和削顶了
本测试仅对特定样品在该条件下有效，结果仅供参考
完
用示波器测试？uV 级别的哦{:142_365:} 看来这么多年远征的没啥改进 呵呵，还好有你的测试。朝阳的还贵得多，真是金玉其外败絮其中啊！淘宝上朝阳的4.5元，十七厂的才1.5元，坑爹啊！ 我比较好奇，这是啥示波器啊？这么牛？ 肯定是加了前置放大啊 不会吧。。
长短老师测的朝阳远征的不是还不错么？ 我还特地入了10几个呢。
LZ要不也杀个远征的234？看看工艺有没有疑似深埋 楼主的测试很有用{:139_266:}
我看书说二极管的散粒噪声只跟通过电流有关和其他因素无关
散粒噪声电流= √(2*e*Idc*B) //e为电子电荷，Idc是通过的直流电流，B是器件带宽
但为何测试的二极管噪声各不相同呢（排除爆米花噪声这样的缺陷二极管） 说不定是几十年前的库存翻新一下？ 这个结果可能说明两个问题：一是产品初始老化不够，二是材料没有改进。
我最初测试的XYZ的结果和十七厂的差不多，但那是在电压表作为读数终端的情况下，很可能大的波动被平滑了，示波器的显示应该更可靠一些。
longshort 发表于 2015-6-25 06:07
这个结果可能说明两个问题：一是产品初始老化不够，二是材料没有改进。
我最初测试的XYZ的结果和十七厂 ...
看来还是上无的划算啊。
期待LZ解刨个朝阳的看看{:139_267:}
又涨姿势了，楼主都快成2DW234的专业户了{:142_369:}，佩服楼主专研的劲头。也期待朝阳的解剖，期待进一步的分析，想知道到底是差别在哪里呢 test01 发表于 2015-6-24 23:27
楼主的测试很有用
我看书说二极管的散粒噪声只跟通过电流有关和其他因素无关
散粒噪声电流=...
这位仁兄很有意思哦！看书不少，可为啥总是《葵花宝典》只看第一页的把式？
呵呵哈哈开个玩笑。
君只知散粒噪声，却不知这里主要是雪崩噪声；
即便知道是雪崩噪声，还是不知道这里的噪声根本不是白噪声；
即便知道这是粉红噪声，还是不知道这玩意儿从哪里来，遑论理论模型。
神马表面击穿、表面态，理论半导体物理里面哪儿去找？
所以劝仁兄一句，学海无涯，回头是岸！
JackFrost 发表于 2015-6-25 11:58
又涨姿势了，楼主都快成2DW234的专业户了，佩服楼主专研的劲头。也期待朝阳的解剖，期待进一步 ...
新鲜的CYZ解剖照来了。
整个管壳底部灌了大约1mm厚的胶，糊得死死的，管芯看不清，只好把胶清理掉，但是这样邦定线就扯断了，没法拍工作状态的照片。
不过据除胶之前的大致观察，似乎也没有看到发光现象。
CYZ产品很奇特，两个二极管的Pad不对称，接1脚（色点）的要长一些，可能说明两个二极管本身也不一样（但之前的测试显示，正反向的击穿电压差别并不大，噪声指标也相近）。
管座玻璃部分仍可见有胶层附着，金属部分镀金，中间那一糊糊白应该是烧焊管芯用的焊料，涂得好写意！
高倍放大后可见，两个Pad外周并无扩散区轮廓环绕（可与前贴对比），可能各扩散区整体藏在铝层之下，如此即便有表面击穿发光也无法看到。
archwang 发表于 2015-6-25 19:46
这位仁兄很有意思哦！看书不少，可为啥总是《葵花宝典》只看第一页的把式？
呵呵哈哈开个玩笑。
昨夜的问题是比较随意。忘了这是测的10hz以内低频噪声，和散弹噪声关系不大
我的实质问题是 在排除低频高频噪声段，中间段噪声是和书上说的一样是只和通过电流有关不受器件型号影响吗
test01 发表于 2015-6-25 20:58
昨夜的问题是比较随意。忘了这是测的10hz以内低频噪声，和散弹噪声关系不大
我的实质问题是 在排除低频 ...
您觉得这个问题不随意么？
最主观地讲，存在完全符合理论模型的理想器件么？
退一步讲，您打算把什么程度上的符合判定为“和书上说的一样”？
再客观一点，“排除低频高频”，哪里定义为高频，哪里定义为低频？，剩下的频带宽度您计划取多少？
archwang 发表于 2015-6-25 21:08
您觉得这个问题不随意么？
最主观地讲，存在完全符合理论模型的理想器件么？
退一步讲，您打算把什么程 ...
这话说的
我本来就是问的现实二极管多大程度上符合理论模型啊（刚才问题：只和通过电流有关不受器件型号影响吗），你要是知道符合或不符合，直说符合或不符合不得了，或说差异程度多大
关于说多大程度上符合理论模型，就像你另一个帖子也有类似的例子“先来个39k电阻热噪声，531nV，居然和理论值差不多。”。我也是这样的问题，现实器件实测与理论数有多大差距。我就不明白，为啥这么个清晰的问题就不能问
longshort 发表于 2015-6-25 06:07
这个结果可能说明两个问题：一是产品初始老化不够，二是材料没有改进。
我最初测试的XYZ的结果和十七厂 ...
低频段噪声这么大，可能还是工艺缺陷
我看资料说1/f噪声用来做缺陷检测效果很好
对这儿问的问题有人帮俺查了外文资料解决了 archwang 发表于 2015-6-25 20:11
新鲜的CYZ解剖照来了。
整个管壳底部灌了大约1mm厚的胶，糊得死死的，管芯看不清，只好把胶清理掉，但是 ...
再补一张侵蚀Pad后的照片
可见中间圆形的SiO2窗口以及其周边的环形扩散区边界。这说明扩散区边界被掩盖在铝层之下，所以即便有发光也无法看到。
两个Pad不一样，但是两个二极管倒是看上去没啥差别，应该也是同一次扩散形成的，这么做的目的目前还不好理解。
另外，看看那两个同心圆的错位，这掩模精度也是让人无话可说。
test01 发表于 2015-6-25 23:24
这话说的
我本来就是问的现实二极管多大程度上符合理论模型啊（刚才问题：只和通过电流有关不受器件型号 ...
您问这个问题，肯定是希望有人回答。
但是这论坛上有料的多是实干者，没人肯在这里掉书袋。
没测过，自然不知道，所以没有人会回答您的这个问题，就像您提出过的那么多问题一样。
即便是测过，您给出的条件太模糊，噪声这个参数本来就对测试条件非常敏感，所以无法针对您的提问做出回答。
我的实验里测过国产金属膜电阻，我才可以和大家说这种元件的过剩噪声并不严重。碳质电阻显然会有不同的结果。无源元件尚且有这么大的差异，对于有源器件您能指望“和书上说的一样是只和通过电流有关不受器件型号影响吗”？
您认为“低频段噪声这么大，可能还是工艺缺陷”，问题正是如此，缺陷（不仅限于工艺缺陷，还包括半导体材料缺陷等等）会毁掉一切“和书上说的一样”的理论情况，所以如果您问的是“符合不符合”，那我可以直截了当回答：肯定不符合。
至于有多么不符合，您大可以自己搭个系统测一下，然后把结论发上来与大家共享。
中等频率的LNA比0.1～10Hz的要好做得多，或许一片LT1028或者OPA627就能解决问题，何不去试试？
test01 发表于 2015-6-26 02:53
对这儿问的问题有人帮俺查了外文资料解决了
您喜欢文献，再送您一篇。 archwang 发表于 2015-6-26 10:59
您喜欢文献，再送您一篇。
不错，我慢慢啃会
archwang 发表于 2015-6-26 10:51
您问这个问题，肯定是希望有人回答。
但是这论坛上有料的多是实干者，没人肯在这里掉书袋。
确实，我问的大多是理论问题，大学书本上教的那种。为啥呢，因为我不是电子科班，基础不好才问的，想着这儿科班多实践也丰富，对课本上写过的应该有印象吧
现实元件材料缺陷等等非理想因素肯定是有的。就说想问问能有多显著呢。我是想这儿的人实践经验丰富，对器件噪声多大也许测过，对比过超出理论噪声多大比例。既然没人测过就算了，要是已经有人测过就没必要做重复性工作了。
archwang 发表于 2015-6-26 10:36
再补一张侵蚀Pad后的照片
谢谢，虽然不大懂，但为LZ喝彩
页:
[1]