上无十七厂版2DW232噪声水平测试
本帖最后由 longshort 于 2017-7-22 09:58 编辑从去年11月30日开始，用两台2DW232四核基准进行长期运行测试，直至目前仍在进行。用背靠背方式每天采样一次，每次读101条记录做方差，折算到单台的平均数值。采样设备是正处于可靠性曲线末期的solartron7065，高达平均每日2ppm的老化，使获得年老化数据不再有可能，所以电压曲线的变化数据在100ppm以下不再有可信度，但背靠背的测量数据分辨率大于等于100ppm，因而这些数据是可用的。
基准核心是上无十七厂版本的2DW232，截取前4380小时（半年）的记录，数据分拆折算到单个器件，并将记录时的0.005Hz~0.78Hz带宽的频带外推到0.1Hz~10Hz频段，制成以下图表。
半年期老化噪声变化，从趋势线可以看出噪声减小的程度，橙色线是峰峰值，蓝色线是有效值：
4380小时平均水平：
最末一周的平均水平：
好好学习，论坛越来越少技术文章了。 技术帖，不过看不懂，能够说明一下吗？
好好学习，论坛越来越少技术文章了。 支持技术文章，但能否说明一下，这说明了什么问题 楼主是个用心的人，向您学习，看过您做的恒流源的帖子，能持续记录这么久很不容易！！！ 测试电路？？？？ 平面外延型器件噪声差也不是什么奇怪的事情。请问楼主测试的2DW232的输出（DC）的长期漂移能达到什么特性？
RMS的拟合线斜率看不见。 用心做技术，支持！同问楼上。 本帖最后由 longshort 于 2014-6-21 17:14 编辑
谢谢各位顶帖，有关问题，在这里一并作答：
１．测了这个有啥用？？？
当然没用，饱不了肚子，您忽略便可。
２．看不懂，能够说明一下吗？
基准器件的噪声／短稳性能决定了使用的深度。如果噪声很小，作为测量仪器的核心就能使仪器的分辨率提高。
３．测试电路？？？？
背靠背测试很简单，两台基准的负极相连，测量设备的两条线各接到基准的正极上。
４．长期漂移能达到什么特性？RMS的拟合线斜率看不见。
平面器件也是在不断发展的，增加表面玻璃钝化工艺可以获得较好的噪声性能，形式上类似于隐埋工艺。
究竟能达到什么特性不知道。最末一周的噪声数据可以认为是典型值，这个水平不会比LM399更差。
RMS的趋势线能看见，点击图片可以放大。
请问楼主测试的2DW232的输出（DC）的长期漂移能达到什么特性 longshort 发表于 2014-6-21 15:19
谢谢各位顶帖，有关问题，在这里一并作答：
１．测了这个有啥用？？？
我用2DW7C和LM399分别制作过电压基准，感觉他们跳字差别不大，都是2－4个字这样，应该是分辨率差不多，就是限于条件，没有办法测试漂移情况。
zeng_zww 发表于 2014-6-23 17:46
我用2DW7C和LM399分别制作过电压基准，感觉他们跳字差别不大，都是2－4个字这样，应该是分辨率差不多，就 ...
如果人工观察看不出跳字多少的差别，用多条记录做方差比较就能看出优劣。
哈哈哈 矿坛过来的～～～～我来研究研究的
好贴需要顶起来！
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