上无十七厂版2DW232噪声水平测试
本帖最后由 longshort 于 2017-7-22 09:58 编辑从去年11月30日开始,用两台2DW232四核基准进行长期运行测试,直至目前仍在进行。用背靠背方式每天采样一次,每次读101条记录做方差,折算到单台的平均数值。采样设备是正处于可靠性曲线末期的solartron7065,高达平均每日2ppm的老化,使获得年老化数据不再有可能,所以电压曲线的变化数据在100ppm以下不再有可信度,但背靠背的测量数据分辨率大于等于100ppm,因而这些数据是可用的。
基准核心是上无十七厂版本的2DW232,截取前4380小时(半年)的记录,数据分拆折算到单个器件,并将记录时的0.005Hz~0.78Hz带宽的频带外推到0.1Hz~10Hz频段,制成以下图表。
半年期老化噪声变化,从趋势线可以看出噪声减小的程度,橙色线是峰峰值,蓝色线是有效值:
4380小时平均水平:
最末一周的平均水平:
好好学习,论坛越来越少技术文章了。 技术帖,不过看不懂,能够说明一下吗?
好好学习,论坛越来越少技术文章了。 支持技术文章,但能否说明一下,这说明了什么问题 楼主是个用心的人,向您学习,看过您做的恒流源的帖子,能持续记录这么久很不容易!!! 测试电路???? 平面外延型器件噪声差也不是什么奇怪的事情。请问楼主测试的2DW232的输出(DC)的长期漂移能达到什么特性?
RMS的拟合线斜率看不见。 用心做技术,支持!同问楼上。 本帖最后由 longshort 于 2014-6-21 17:14 编辑
谢谢各位顶帖,有关问题,在这里一并作答:
1.测了这个有啥用???
当然没用,饱不了肚子,您忽略便可。
2.看不懂,能够说明一下吗?
基准器件的噪声/短稳性能决定了使用的深度。如果噪声很小,作为测量仪器的核心就能使仪器的分辨率提高。
3.测试电路????
背靠背测试很简单,两台基准的负极相连,测量设备的两条线各接到基准的正极上。
4.长期漂移能达到什么特性?RMS的拟合线斜率看不见。
平面器件也是在不断发展的,增加表面玻璃钝化工艺可以获得较好的噪声性能,形式上类似于隐埋工艺。
究竟能达到什么特性不知道。最末一周的噪声数据可以认为是典型值,这个水平不会比LM399更差。
RMS的趋势线能看见,点击图片可以放大。
请问楼主测试的2DW232的输出(DC)的长期漂移能达到什么特性 longshort 发表于 2014-6-21 15:19
谢谢各位顶帖,有关问题,在这里一并作答:
1.测了这个有啥用???
我用2DW7C和LM399分别制作过电压基准,感觉他们跳字差别不大,都是2-4个字这样,应该是分辨率差不多,就是限于条件,没有办法测试漂移情况。
zeng_zww 发表于 2014-6-23 17:46
我用2DW7C和LM399分别制作过电压基准,感觉他们跳字差别不大,都是2-4个字这样,应该是分辨率差不多,就 ...
如果人工观察看不出跳字多少的差别,用多条记录做方差比较就能看出优劣。
哈哈哈 矿坛过来的~~~~我来研究研究的
好贴需要顶起来!
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