a-fly 发表于 2011-4-5 21:39:49

内恒温2.5V基准的测试数据

这是前段时间的“温漂不亚于LTZ1000的2.5V基准”的测试数据，

测试的温度范围不是太宽，这几天杭州的温度不够低，我先用空调将温度打高，然后由室温自然降温，温度的变化范围约10度。
测试的结果表明，REF5025的噪声较大，Vpp不小于10uV，但是我觉得还有一定的改善空间。
从测试数据看来，无法看出REF5025的输出电压与环境温度的关系。片内恒温的目的应该是实现了。

测试使用的是3458A，测试开始之前，3458A至少连续开机48h了。
测试数据：


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happymanlxh 发表于 2011-4-5 21:51:39

happymanlxh 发表于 2011-4-5 21:52:40

a-fly 发表于 2011-4-6 09:01:35

有道理，等会儿测一下非恒温的特性曲线

a-fly 发表于 2011-4-6 11:57:41

引用第2楼happymanlxh于2011-04-05  21:52发表的  :
应该先上不加片内恒温的测试图，再上加了恒温的测试图。这样有可比性。
images/back.gif


原帖：温漂不亚于LTZ1000的2.5V基准
3458A测试，NPLC = 100。
现在补上无恒温时的测试数据：

p_w_upload/photo/Mon_1104/419_ecba13020622505e91b940ed84241.jpg

happymanlxh 发表于 2011-4-6 21:54:23

djh200800 发表于 2011-4-7 15:22:56

恭喜a-fly 你的思路是很创新的,试验的实际效果也很好,明显的提高了基准电压受温度变化的稳定性,把ref5025的TEMP测温端的测温功能充分的利用起来了.

a-fly 发表于 2011-4-7 16:03:38

老沈，过几天调好了再给你寄一个过去，你也可以玩玩。

djh200800 发表于 2011-4-7 18:19:43

谢谢哦!

va狂人 发表于 2011-4-7 18:53:55

实力派

longshort 发表于 2011-6-9 14:30:42

手头有一批生产年代不同的同型号产品，简单测试无法判断它们之间的差别。在做一个小功率电源时突然对元件个体的表面温度感到兴趣，用K型热偶的接触式测试虽说误差很大，但也多少看到了电路中的各种器件不同温度引起的热岛分布图景。由此想到楼主有关芯片自加热进行恒温的实验，便找出来重温一下，由此也发现楼主的思路确实特别，虽然我本人并不赞同这样的恒温方式，但无疑这是非常有创意的方法，特向楼主表示敬意！
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