今早出了一个计量人士最喜欢的数字10.00000V
本帖最后由 jj3055 于 2013-5-22 08:58 编辑今天早上给一批老化了几天的AD588编码基准测试，刚插上测试线，显示9.99999V，大喜，再检查HP3456，发现HP3456漂移了6位半一个字，把HP3456校准后测试，显示10.00000V。以上测试没做任何手脚，扎扎实实的碰到了一个10.00000V。这是我做AD588基准几年来唯一一个碰到的刚好在当时室温下显示10.00000V的基准，特此留念。遗憾的是5V不是特别好，如果5V也来个5.00000V，那就神马了。
下面是我的老化测试板，一次可以老化10台AD588.
588精度高没意义。
根据它老化速度，还是10.000xxV的更理想一些。 10.0000档与5.000档要一直的几率更是小之又小 hldiy 发表于 2013-5-22 09:24
588精度高没意义。
根据它老化速度，还是10.000xxV的更理想一些。
错了，应该是9.999XX更理想些，588是正向老化的。
我测试了一百多片编码芯片，反向老化的为多数。
全新bq芯片，测试了20片，还没能得到老化方向，但输出电压值都是正偏。 hldiy 发表于 2013-5-22 10:56
我测试了一百多片编码芯片，反向老化的为多数。
全新bq芯片，测试了20片，还没能得到老化方向，但输出电压 ...
我搞了4年的AD588，经手的BQ有100多片，编码有100多片。目前一直在测试的BQ和AD,BD,CD,编码，不管是单个测试还是统计，都表现出正向老化特性。
祝贺下楼主！
几乎所有电压基准都是反向老化的，588也不例外。
另外特别要指出的是，编码的AD588特性不稳定，批次差异大，我早期做的一批30多个，精度很不错，精度优于0.01%的占2/3左右，后期又做的100来片，精度优于0.01%的只占1/3左右。电压基本为正向误差。其中后期做的100来片平均值为正偏100PPM左右。
588BQ测试的值也是平均正偏40PPM左右，从统计的正偏数据来看，AD588不管是编码还是BQ，应该是正向老化。
588BQ经常测试到精度超10.00100V的，但是很少能测试到小于9.99900的，从这里也可以看到588BQ的正向老化特性。 和你讨论这个没意义，当我啥也没说过吧！ hldiy 发表于 2013-5-22 11:13
和你讨论这个没意义，当我啥也没说过吧！
这个要事实求是的，不能瞎掰。
hldiy 发表于 2013-5-22 11:10
几乎所有电压基准都是反向老化的，588也不例外。
这东西不能主观臆断的，不能猜测，要统计数据。
我过段时间就出统计数据。
jj3055 发表于 2013-5-22 11:30
这个要事实求是的，不能瞎掰。
我都说当我啥也没说过了，爱怎么瞎掰随便了，别纠缠了好吗。 没赶上两个大大征讨AD588 AD588只是基准的典型应用和扩展，并非典型基准，而且这类“基准”，如果要当作真基准，那只有把它接成浮地，做为10V基准。 O(∩_∩)O~
好多的零( ⊙ o ⊙ )啊！
0000000000000000000000000000000000000000000000000000000000000
要0还不容易。支持LZ上老化数据分享 没有不变的基准 点数后第8位的浮动，很难做到恒温呵 关于楼上争论的基准老化方向，有参考文献https://bbs.38hot.net/thread-4-1-1.html，讲到sza263是正向老化，其余的固态基准多数是负向老化。
至于AD588是正向还是负向，这个我没有条件实测，我的看法应当以实测数据为准。理论上讲，实际上AD588并不是一般的齐纳基准，它包括齐纳基准和升压薄膜电阻、运放等，因此可以认为它的老化应当是内部齐纳基准，附加的薄膜电阻以及运放的综合表现。因此在得到大批量实测数据之前，不能以齐纳基准的老化规律来推测AD588.
用数据说话比较有说服力！
争啥？ 我的10.00000Ω的电阻看上去也不错.
楼主，老化统计数据出来了么？期待哦，支持数据说话 學習了
页:
[1]