yjm2000 发表于 2009-1-12 01:56:21

一种改进的超低压电压基准源设计

摘要:本文利用NMOS管与PMOS管栅源电压的温度特性及衬底偏置效应,设计了一种带曲率补偿输出电压约为233mV的电压基准源。该电路结构简单,电源抑制特性较好,并与传统带隙基准电压的温度特性相似。利用0.5-CMOS工艺对电路进行仿真,仿真结果表明:电源电压为1V时,在-40℃至125℃温度范围内,基准源的温度系数约为11ppm/℃;在100Hz和10MHz时电源抑制比分别为-58.6dB和-40dB。
  关键词:电压基准 衬底电压 阈值电压 曲率补偿
  
  1 概述
  
  在便携式设备广泛使用的今天,低电源电压和低功耗已经成为模拟电路设计的主要主题之一。其中电压基准源是模拟电路设计中的关键模块,应用广泛。它一般要求低电源电压敏感性,低温度漂移特性。传统的基准源电路都是基于带隙基准,利用标准CMOS工艺中的垂直PNP管,但输出电压一般为1.2V左右。随着电路工作电压的继续下降,基准源的输出电压也需要下降。作为可供选择的另一种方案,可以利用阈值电压的不同温度特性产生电压基准。利用有选择的沟道注入,不同浓度的栅注入引入功函数之差。但以上均不适用于标准的CMOS工艺。文献提出了一种新的设计思路,利用NMOS管ΔVGS的负温度系数乘上权重与PMOS管的ΔVGS的负温度系数相减后得到与温度无关的基准电压,但MOS管阈值电压温度特性具有较大非线性,故该基准输出电压的温度系数一般大于30ppm/ ℃,只属于一阶温度补偿技术。因此本文利用衬底电压偏置效应,来减小阈值电压的非线性,改善电压基准源的温度特性,达到二阶曲率温度补偿,满足高精度电路的要求。
  
  2 改进的基准电路
  
  2.1 核心电路工作原理
  图1为改进的基准产生电路,M5-M6,R1及两个PNP晶体管Q1、Q2产生与绝对温度成正比的(PTAT)电流;M9和R2为M11提供可变的衬底偏压来消除阈值电压的非线性;M11与M12 提供ΔVGS之间的差值产生基准电压;R3和R4为栅源电压的比较提供权重。M10为其提供偏置电流。基准电压的表达式为:
  
  2.2 低压运放电路
  为了产生PTAT电流,传统的自偏置结果不能适用于低压的情况。因此采用了NMOS差分对输入的低压运放,电源电压为1V。电路结构如图2所示:M24-M26为偏置电路,M21-M33为折叠式运放,VN,VP为运放的两个输入端,OUT1为运放的输出,C1进行环路补偿,调节偏置管M25及图1中M5和M6管。
  
   2.3 启动电路
   为了避免零电流状态加入了M16-M20的启动电路。工作原理为:当PTAT电流源电流为零时,VN端为低电平,M16与M17构成的反相器输出高电平,M19和M20处于线性区,M15 导通向图2运放的偏置管提供电流。当PTAT电流源正常工作后,VN使M17 导通,关断M19,M20和M15从而不影响主电路的正常工作。具体电路图如图3所示:
  
  3 仿真结果
  
   3.1 温度特性的仿真
  采用0.5CMOS工艺对电路的温度特性、启动特性和电压抑制比进行了仿真分析。图4为温度特性仿真曲线,仿真扫描温度范围为-40℃—125℃。其温度变化幅度约为0.42mV,温度系数约为11ppm/ ℃。由于μn与μp的温度系数略有不同,使得最后的基准电压还是与温度有关。相比,本文实现了温度的二阶补偿。
  图5为节点L9(见图1)的电压波形,从结果可以看到电压近似为负温度系数。因此利用它的这一性质在中实现了一阶温度补偿。也证实了在2.1节的分析中,可以用于产生线形特性的电压VBE。
  
   3.2 启动电路的仿真
  图6为基准电路的启动波形,随着电源电压的身高,基准电压的输出在大约200us后达到稳定值。启动电路能正常工作。
  
  3.3 电源抑制比的仿真
  图7为电源抑制比波形。仿真激励为在室温下,在直流电源上叠加一个1V的交流信号。测量基准源输出的变化,可以看到在100Hz和10MHz时,电源抑制比分别为-58.6dB和-40dB。对比文献中数据,得到了改善。原因是当电源电压波动时,M11管的衬底电位会跟随变化。该特性满足开关电源和LDO应用要求。
  
  4 结论
  
  本文利用NMOS管与PMOS管栅源电压的温度特性及衬底偏置效应,设计了一种带曲率补偿输出电压约为233mv的电压基准源。首先详细分析本文所采用的曲率补偿原理,然后设计基准核心模块、低压运放和启动电路,最后给出了电路性能仿真结果。该电路结构简单,电源抑制特性较好,与传统带隙基准电压的温度特性相似。利用0.5-CMOS工艺对电路进行仿真,仿真结果表明:该电路实现了温度的二阶补偿,并具有较高的电源抑制比;电源电压为1V时,在-40℃至125℃温度范围内,基准源的温度系数约为11ppm/℃;在100Hz和10MHz时电源抑制比分别为-58.6 dB和-40dB。
  
  参考文献
   H. Banba, H. Shiga, A. Umezawa, T. Tanzawa, S. Atsumi and K. Sakui, “A CMOS Bandgap Reference Circuit with sub 1-V Operation,” IEEE Journal of Solid-State Circuits, vol.34, pp. 670-674, May 1999
   H. Tanaka, Y. Nakagome, J. Etoh,, E. Yamasaki, M. Aoki, and K. Miyazawa, “Sub-1-μA dynamic reference voltage generator for battery-operated DRAMs,” IEEE J. Solid-state Circuits, vol. 29, pp, 448-453, Apr.1994.
       H.J. Oguey and B. Gerber, “MOS voltage reference based on polysilicon gate work function difference,”IEEE J. Solid-state Circuits, vol. SC-15, pp, 264-269, June.1980.
   K.N. Leung and P.K.T. Mok, “A CMOS Voltage Reference Based on Weighted ΔVGS for CMOS Low-Dropout Linear Regulators.” IEEE Journal of Solid-State Circuits, vol.38, pp. 146-150, Jan 2003
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   S. M. Sze, Physics of Semiconductor Devices, Wiley, New York, 1981,433-453
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   A. Cabrini, “A 1V, 26 Extended Temperature Range Band-gap Reference in 130-nm CMOS Technology.” Solid-state Circuits Conference, Proceedings of the 31st European, 2005, 503 - 506
  
  注:“本文中所涉及到的图表、注解、公式等内容请以PDF格式阅读原文”

degree40 发表于 2020-4-22 23:36:13

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lyqqyl 发表于 2020-4-23 00:26:39

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