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楼主: yyp20034

[制作] 试着做一个过程校验仪

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发表于 2018-5-15 09:12:02 38hot手机频道 | 显示全部楼层
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发表于 2018-5-15 15:04:57 | 显示全部楼层
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发表于 2018-5-15 20:58:11 38hot手机频道 | 显示全部楼层
等样品。
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 楼主| 发表于 2018-5-15 22:39:27 38hot手机频道 | 显示全部楼层
正在布线,努力中,限于个人软件水平,第一版会不带显示和按键,通过串口控制,只要信号做好了,数字部分都不是事
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发表于 2018-5-16 12:13:41 38hot手机频道 | 显示全部楼层
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发表于 2018-5-16 19:29:56 | 显示全部楼层
yyp20034 发表于 2018-5-13 16:10
做仪器仪表很多年,一直在做采集设备,曾经梦想自己也能做一个过程校验仪,限于水平有限,一直直没开始做, ...

你所说的这个东西不叫“过程校验仪”。而是多用表校验仪。

如果不考虑系统响应时间,你的部分想法可实现。

如果系统DAC采用LTC1597,MCU采用ARM Cortex Mx的话,可以考虑采用输出抖动来适当提高DAC的等效分辨率。

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 楼主| 发表于 2018-5-16 19:48:13 | 显示全部楼层
a-fly 发表于 2018-5-16 19:29
你所说的这个东西不叫“过程校验仪”。而是多用表校验仪。

如果不考虑系统响应时间,你的部分想法可实 ...

我没有采用信号抖动来实现,我想通过多个DAC合并组成一个高分辨率的DAC,想法也只是想法,现在需要实际的测试一下。如果ADC取平均可以提高有效分辨位数,那么是不是多个DAC取平均也可以提高有效分辨位数?
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发表于 2018-5-16 19:49:55 | 显示全部楼层
此贴不沉,期待持续更新。
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 楼主| 发表于 2018-5-16 19:58:59 | 显示全部楼层
a-fly 发表于 2018-5-16 19:29
你所说的这个东西不叫“过程校验仪”。而是多用表校验仪。

如果不考虑系统响应时间,你的部分想法可实 ...

有可能我的这个想法,是失败的,现在最大的问题是,它太贵了,没有经济型可言,即便是我用4颗16位的DAC实现了20位的有效分辨位数,那依然没有单颗20bit的DAC来的经济和可靠,本次最大的收获可能是此种方法行不通。不过,人生贵在折腾,呵呵。
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发表于 2018-5-16 22:37:53 | 显示全部楼层
建议主通道采用16位PWM DA,负通道采用商品8位DA,这样的指标就容易获得很好的指标
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